透射偏光熔點(diǎn)測(cè)定儀

XPR-300型透射偏光熔點(diǎn)測(cè)定儀
是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門(mén)和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)zui常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來(lái)觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
 本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域，適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測(cè)量、結(jié)晶動(dòng)力學(xué)的過(guò)程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。
   偏光顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識(shí)別、精密加工、圖象學(xué)、自動(dòng)控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當(dāng)前技術(shù)，多年研究開(kāi)發(fā)的結(jié)果，在國(guó)內(nèi)享有.本儀器的具有可擴(kuò)展性，可以接計(jì)算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對(duì)圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。
二、儀器的主要技術(shù)指標(biāo) 
1.顯微鏡技術(shù)參數(shù): 名稱  規(guī)格
總放大倍數(shù)：   40X---630X
無(wú)應(yīng)力消色差物鏡  4X/0.1 10X/0.25 25X/0.40 40X/0.65彈簧 63X/0.85彈簧
目鏡  10X十字目鏡 10X分劃目鏡
試片  石膏1λ試片 云母1/4λ試片 石英楔子試片
測(cè)微尺  0.01mm
濾色片  藍(lán)色
帶座目鏡網(wǎng)絡(luò)尺
移動(dòng)尺  移動(dòng)范圍30mm×40mm
鏡筒  三目觀察
2.熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):
熱臺(tái)組成 性能
顯微精密控溫儀
在 20倍物鏡下工作溫度可達(dá)到zui高300 ℃ 、溫度運(yùn)行程序全自動(dòng)控制；溫度程序段由用戶自行設(shè)定， 30段溫度編程，循環(huán)操作，能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實(shí)際溫度。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時(shí)間，升溫速率可調(diào)、精度 ± 0.3 ℃、記憶點(diǎn)讀數(shù)
可以隨載物臺(tái)移動(dòng)、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
?  起始溫度室溫
?  工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米
?  工作區(qū)溫度梯度不超過(guò) ± 0.1
?  透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào)
?  顯示溫度與實(shí)際溫度誤差不超過(guò) ± 0.2
?  熱臺(tái)可以隨載物臺(tái)移動(dòng)
在加熱狀態(tài)下zui高可使用 20倍物鏡

注意：熔點(diǎn)測(cè)定（溫度超過(guò)100度時(shí)，25X的物鏡工作距離
太近，容易損壞鏡頭，請(qǐng)選用長(zhǎng)工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）

三、系統(tǒng)數(shù)字性     XPR-300C型偏光熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計(jì)算機(jī)成像技術(shù)和精密的溫控技術(shù)*地結(jié)合在一起而開(kāi)發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對(duì)偏光圖譜進(jìn)行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。